日本理學波長色散XRF光譜儀利用分光晶體的衍射來分離樣品中的多色輻射，能量色散光譜儀則利用探測器中產生的典雅脈沖和脈高分析器來分辨樣品中的特征射線。

理學波長色散X射線熒光光譜儀是利用原級X射線或其他光子源激發待測物質中的原子，使之產生熒光（次級X射線）。從而進行物質成分分析的儀器。X射線熒光光譜儀又稱XRF光譜儀，有色散型和非色散型兩種。它的優點是不破壞樣品，分析速度快，適用于測定原子序數4以上的所有化學元素，分析精度高，樣品制備簡單。

應用領域
 

1、非常適合在大、中、小型水泥廠（單、雙窯）做質量過程控制使用。可用于分析原料（如石灰石、沙土、礬土、菱鎂礦和其他礦物）中主量和次量氧化物的定性和定量分析;水泥生料、熟料樣品中的 CaO, SiO2, Al2O3, Fe2O3, MgO, SO3, K2O, Na2O, Cl、TO2等常規元素的測定。

2、鋼鐵行業的應用：依據GB/T 223.79-2007測定Si、Mn、P、S、Cu、A、Ni、Cr、Mo、V、Ti、W、Nb元素。

3、其它行業的應用：石油中的S、P測定，玻璃、陶瓷、有色金屬、礦業、地質、化工、質量檢驗等。