作為鋰離子充電電池的正極材料，鈷酸鋰近幾年受到廣泛關注。金屬雜質是造成電池發熱或著火等的重要原因，因而需要進行材料中的鉛進行分析。由于主要成分鈷、鋰的濃度高，在ICP發射光譜儀或D2燈校正原吸上要做精確的分析是很困難的。在偏振光塞曼校正原子吸光法上是可以不受光譜干擾進行檢測，添加回收率良好，為 99.2 % 。

儀器基本參數

升溫程序和注意事項

NOTE ：樣品1：鈷酸鋰 0.5 M 溶液?  樣品2：鈷酸鋰 0.5 M 溶液 + 0.25 mg/L

采用標準加入法進行測定?

測定結果

儀器說明

日立ZA3000原子吸收光譜儀火焰和石墨爐均采用偏振塞曼背景校正方式，結合雙檢測器，同時監測樣品光束和背景光束，消除時間差與空間差，是真正的實時雙光束實時背景校正儀器。其他原子吸收光譜儀火焰部分全部都采用氘燈背景校正，與氘燈背景校正相比較，塞曼背景校正有如下絕對優勢：

1）塞曼背景校正可以獲得穩定的基線，測試結果穩定、可靠。ZA3000的動態基線穩定性為0.0004Abs/30min（如下圖所示），該指標優于其他任何一家原吸一個數量級，因此數據重現性號，結果穩定可靠。穩定的基線使得該儀器開機即測，無需預熱。

2）對于臨近譜線的干擾，即結構背景氘燈無法進行校正，而塞曼背景校正可以進行校正

3）190-900nm全波長范圍內背景校正，氘燈只有在190-360nm有能量，超過360nm的可見區是無法進行背景校正的。而像鋰（670.8nm）、鈉(589.0nm）、鉀(766.5nm）、鋇(553.6nm）鈣(422.7nm）、鍶(460.7nm）、鉻(359.3nm）等長波長的元素氘燈無法校正背景。

4）采用氘燈背景校正的儀器由于空心陰極燈和氘燈的光束無法擬合，極易產生校正過度現象，而塞曼背景校正不存在此問題。

5）后期沒用氘燈耗材成本，節省費用。

動態基線穩定性≤0.0004Abs/30mins

基線穩定性是光學系統、檢測系統、機械系統等綜合指標

測試方法：依照國家計量檢定規程《JJG 694-2009 原子吸收分光光度計》5.3.4基線穩定性測試方法測試。